

詳細介紹
風冷半導體臺(TSA80)是一種利用強制風冷(風扇或氣流)為半導體器件散熱的測試設備 ,主要用于在實驗室或生產環境中對半導體器件進行性能驗證、可靠性測試或老化測試。產品外形尺寸小巧,結構緊湊,便于與各類測試儀器(如光譜儀、顯微鏡、探針臺等)靈活搭配使用,極大拓展了應用場景。憑借其穩定的溫控性能和良好的兼容性,該恒溫臺已普遍應用于半導體芯片測試、生物組織觀察、制藥反應分析等領域,為科研與工業檢測提供了高效可靠的溫控平臺。
•溫控方式:TEC
•溫度范圍:10~80℃
•溫度精度:±0.1℃
•載臺溫度五點均一度>99% at 60℃
•空載升溫時間 :20℃→60℃ , 升溫時間<30s
•空載降溫時間 :60℃→20℃ , 降溫時間<60s
•產品與恒溫臺貼合方案:真空吸附(可選)
•恒溫臺通訊:支持USB串口通信或其他高速通信方式
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