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SEM原位冷熱臺是一款專為掃描電子顯微鏡設計的高性能變溫測試附件，無需對電鏡內部結構進行任何改造，即可實現樣品的原位變溫實驗。該裝置通過定制外接法蘭與電鏡腔體連接，配合專項溫控軟件，可對樣品進行精確加熱與制冷，適用于多種材料在變溫過程中的微觀結構研究。其法蘭接口可根據現有主流掃描電鏡型號（如蔡司、國儀量子、惠然等）進行定制，確保與不同品牌設備的高度適配。

光學熱臺是研究材料在變溫環境下光學性能的重要設備，在材料科學、半導體物理、光電器件、納米技術、生物光子學及礦物學等領域具有普遍應用。它能夠在精確控制樣品溫度的同時，實時表征其光學特性，如顯微圖像、熒光光譜、拉曼光譜、X射線衍射及發光效率等。

OLED變溫測試冷熱臺氣密腔室（氮氣保護），上蓋適配光電二極管傳感器，控溫速度：0~10℃/min（程序段控溫時），2個探針、2個BNC接口。

XRD原位熱臺是一款專為X射線衍射儀設計的高精度變溫附件，適用于粉末或片狀樣品在變溫條件下的結構分析，可依據用戶現有設備型號（如布魯克、賽默飛、理學等主流X射線衍射儀）定制適配樣品架。其作為一款專為X射線衍射分析開發的原位裝置，能夠精確調控溫度、力學等多物理場耦合條件，實時監測材料在復雜環境下的結構演變，具備優異的適配性與擴展性，滿足多樣化科研需求。